Polski Serwis Naukowy - OnLine od 1999 roku
RSS
Czwartek, 31 maja 2012
Petronia, Bożysława, Ernestyna, Teodor
 1891: budowa Kolei Transsyberyjskiej
 1970: zagłada miasta Yungay w Peru
 WHO: Dzień bez Papierosa
Nowe publikacje
Za tydzień upływa termin rejestracji na VI OSSA
Dodano:
|25 Lip 2011|, 2011 00:19
|
|
|
Został jeszcze tylko tydzień na rejestrację na VI Ogólnopolskie Seminarium Studentów Astronomii. Konferencja odbędzie się w dniach 22 i 25 września na Uniwersytecie Warszawskim.
Podczas seminarium spotkają się przede wszystkim studenci astronomii i kierunków pokrewnych oraz młodzi pracownicy naukowi. Będzie to dla nich okazja do wygłoszenia często pierwszym w życiu referatów i podzielenia się doświadczeniami ze studiów.
Udział w spotkania zapowiedziało także kilkunastu czołowych polskich astronomów - każdy z nich wystąpi z wykładem ze swojej specjalności.
Na liście prelegentów, którzy potwierdzili już swój udział w VI OSSA znajdują się m.in.: dr Stanisław Bajtlik (Centrum Astronomii im. Mikołaja Kopernika PAN), dr Anna Bartkiewicz (Uniwersytet Mikołaja Kopernika w Toruniu), prof. Maciej Konacki (CAMK PAN), prof. Rafał Moderski (CAMK PAN), prof. Grzegorz Pojmański (Obserwatorium Astronomiczne Uniwersytetu Warszawskiego), dr Wojciech Pych (CAMK PAN), prof. Dorota Rosińska (Uniwersytet Zielonogórski), prof. Michał Szymański (OA UW) i dr Jarosław Włodarczyk (Instytut Historii Nauki PAN).
Organizatorzy konferencji zapowiadają publikację pełnego, uwzględniającego także referaty studentów, programu spotkania na początku sierpnia, po zamknięciu rejestracji.
Osoby zainteresowane wzięciem udziału w seminarium formularz zgłoszeniowy oraz szczegóły organizacyjne mogą znaleźć na stronie http://www.astrouw.edu.pl/knastr/ossa/
PAP - Nauka w Polsce
ast/ agt/
Czy wiesz że...?
wersja BETA
Rozdzielczość tonalna rejestracji- Rozdzielczość tonalna świadczy o zdolności układu rejestracji do reprodukcji zmian intensywności w rejestrowanym obrazie, a więc do wierności odwzorowania walorów obrazu. W przypadku rejestracji przy pomocy materiałów halogenosrebrowych trudno jest mówić o tym parametrze ze względu na bezstopniowość reprodukcji tonalnej tej metody rejestracji (a więc charakterze reprodukcji naturalnym dla widzenia człowieka). Rozdzielczość tonalna będzie natomiast kluczowa dla systemów cyfrowej rejestracji obrazu, gdzie sygnał intensywnościowy jest kwantowany.
pełny tekst
Kamień litograficzny, łupek litograficzny odmiana spoistego kamienia wapiennego używana w formie płyt w litografii. W zależności od koloru i twardości dzielą się na miękkie jasne w kolorze, używane w w rysynku piórkiem, kredką litograficzną, ossa sepia i rysunkach lawowanych oraz twarde ciemne, używane w kamieniorycie i kwasorycie na kamieniu.
pełny tekst
Moduł "Czy wiesz że...?" (wersja testowa, beta): definicje/pojęcia wygenerowane w obrębie tego modułu pochodzą z Wikipedii i udostępniane są na licencji Creative Commons: uznanie autorstwa, na tych samych warunkach, z możliwością obowiązywania dodatkowych ograniczeń.
Dostęp do pełnej wersji każdego hasła (oraz dokładnch informacji na temat licencji, autora oraz edycji) możliwy jest po kliknięciu w odnośnik opisany jako "pełny tekst".
|
|
|
^ |
|
 |
|
Komentarze: brak |
|
Powered by
phpBB © 2000, 2002, 2005, 2007 phpBB Group
|